氘燈的性能技術(shù)指標(biāo)的測(cè)試方法有多種，下面介紹作者經(jīng)常采用的幾種方法。

　　壽命一般是采用比較法。作者經(jīng)常的具體操作是：采用一只新的優(yōu)質(zhì)(相對(duì)而言)氘燈，先在紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的主機(jī)上，或在自己制作的測(cè)試裝置上測(cè)試一個(gè)真實(shí)的數(shù)據(jù)，而后用待測(cè)試的氘燈調(diào)換新氘燈，再測(cè)試一次，據(jù)二者的能量差值來(lái)判斷被測(cè)氘燈的壽命是否到期。一般來(lái)講，把新的優(yōu)質(zhì)(相對(duì)而言)氘燈的測(cè)試數(shù)據(jù)作為100，如果被測(cè)試的氘燈的能量不足新燈的45％(過(guò)去的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn))或50％(目前的國(guó)家新標(biāo)準(zhǔn))，則認(rèn)為被測(cè)試的燈壽命到期。

　　氘燈的發(fā)光穩(wěn)定性也是既與氘燈電源有關(guān)，又與氘燈燈泡本身的質(zhì)量有關(guān)。使用者在調(diào)換新氘燈前，應(yīng)對(duì)新氘燈燈泡的穩(wěn)定性做一次簡(jiǎn)單的測(cè)試。一般的簡(jiǎn)易測(cè)試方法是在紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的主機(jī)上(應(yīng)先確定主機(jī)是合格的)，或在自己制作的測(cè)試裝置上點(diǎn)亮需要換上的新氘燈，儀器預(yù)熱半小時(shí)后測(cè)量。儀器條件設(shè)為波長(zhǎng)250nm，光譜帶寬2nm，取能量測(cè)量、時(shí)間掃描方式，縱坐標(biāo)能量取50％左右，對(duì)新氘燈做一次一小時(shí)的漂移測(cè)試。要求漂移小于0.5%/h(最大值與最小值之差)。如果新燈在1小時(shí)內(nèi)的漂移超過(guò)0.5％，則為不合格。

　　如何判斷氘燈的壽命是否到期，是一個(gè)對(duì)設(shè)計(jì)者、使用者、維修者都有普遍意義的問(wèn)題。作者認(rèn)為一般根據(jù)以下幾個(gè)方面來(lái)判斷：燈點(diǎn)不亮；燈使用壽命末期光窗周圍發(fā)黑嚴(yán)重；燈點(diǎn)數(shù)小時(shí)后，能量下降到50％左右；管壓降超過(guò)90V[因?yàn)橐话銥?75±15)V]；管壓降低于60V(理由同上)；漂移、波動(dòng)嚴(yán)重(穩(wěn)定性差)。